Özet:
Bu çalışmada, PbS yarı iletken ince filmleri, kompleks arabulucu olarak kullanılan
tri-sodyum sitrat (TSS) miktarı hacim olarak 0,1 ml’den 0,5 ml’ ye kadar değiştirilerek
oda sıcaklığında (30 ºC) ve farklı bekleme sürelerinde cam alttabanlar üzerine kimyasal
depolama yöntemi kullanılarak elde edilmiştir. Elde edilen filmlerin kalınlıkları tartım
yöntemi kullanılarak 1020–1270 nm arasında hesaplanmıştır. X-ışını kırınım
desenlerinden, elde edilen filmlerin kübik yapıda oldukları saptanmıştır. Soğurma
spektrumu ölçümlerinden filmlerin doğrudan bant aralığına sahip olduğu ve yasak enerji
aralığının 2,48–3,04 eV arasında değiştiği belirlenmiştir. Elde edilen filmlerin kırılma
indisleri (n, 2,14–3,63 arasında değişmiştir. Soğurma, geçirgenlik ve yansıma eğrileri
kullanılarak elde edilen PbS filmlerin optik parametreleri, sönüm katsayıları (k),
dielektrik sabitinin reel (ε) ve sanal (ε) kısımları hesaplanmıştır. Sönüm katsayısı
değeri 0,11–0,35 arasında değişirken dielektrik sabitinin reel kısmı 4,58–13,08 arasında
ve sanal kısmı ise 0,49–2,58 arasında değişmiştir.