The electrochemical behaviorof (2E,5E)-2,5-dibenzylidenecyclopentanone (P1) and (2E,5E)-2,5-bis(4-nitrobenzylidene)cyclopentanone (P2) known as bis-chalcone derivativeswas studied by cyclic voltammetry (CV) using an indium tin oxide (ITO) as theworking electrode. Repeated cyclic voltammograms measurements exhibitedexcellent long-term redox stability for bis-chalcone derivatives. The oxidationpeak for in the anodic region for the 1st cycle of the P1 appeared at -0.20 V, while the oxidation peak of P2 was observed at -0.47 V. On theother hand, the existence of the electron attracting NO2 group at p-position on the benzene ring in the structureof P2 caused an increase in thehighest occupied molecular orbital (HOMO) and the lowest unoccupied molecularorbital (LUMO) energy gap. The surface morphology and structural features of P1 and P2 films coated onto ITO glass substrates were investigated byusing scanning electron microscopy (SEM) and energy-dispersive X-rayspectroscopy (EDS). SEM micrographs demonstrated that the P1 and P2 werehomogeneously distributed over the ITO surface. After CV measurement, it wasobserved that the grain size of P2 increasedwith increasing ITO surface roughness. Moreover, the EDS results confirmed thepresence of P1 and P2 on the ITO surface.
Bis-kalkontürevleri olarak bilinen (2E,5E)-2,5-dibenzilidensiklopentanon (P1) ve (2E,5E)-2,5-bis (4-nitrobenziliden)siklopentanonun (P2) elektrokimyasaldavranışı çalışma elektrotu olarak bir indiyum kalay oksit (ITO) kullanılarakdöngüsel voltametri ile incelenmiştir. Tekrarlanan döngüsel voltammogramölçümleri bis-kalkon türevleri için mükemmel uzun süreli redoks stabilitesisergilemiştir. P1'in 1. döngüsü içinanodik bölgedeki oksidasyon piki -0.20 V'de görülürken, P2'nin oksidasyon piki -0.47 V'de gözlenmiştir. Öte yandan, P2 yapısında benzen halkası üzerinde p-konumunda elektron çekici NO2grubunun varlığı, en yüksek dolu moleküler orbital (HOMO) ve en düşük boşmoleküler orbital (LUMO) enerji aralığında bir artışa neden olmuştur. ITO camsubstratlar üzerine kaplanan P1 ve P2 filmlerinin yüzey morfolojisi veyapısal özellikleri, taramalı elektron mikroskopisi (SEM) ve enerji dağıtıcı X-ışınıspektroskopisi (EDS) kullanılarak incelenmiştir. SEM mikrografları, P1 ve P2'nin ITO yüzeyi üzerinde homojen bir şekilde dağıldığınıgöstermiştir. CV ölçümünden sonra, P2'nintane boyutunun artan ITO yüzey pürüzlülüğü ile arttığı gözlenmiştir. Ayrıca EDSsonuçları, ITO yüzeyi üzerinde P1 veP2'nin varlığını doğrulamıştır.